FT-371高阻四探針測試儀
一.概述: 四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到1010Ω方阻值,液晶顯示, AD芯片控制,恒流輸出, 四探針雙位測量、參考美國 A.S.T.M 標準。中或英文語言版本. 二.FT-371高阻四探針測試儀適用范圍: 覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試,硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料,晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等. 三.FT-371高阻四探針測試儀參數資料Parameters:
FT-371高阻四探針測試儀
FT-361系列低阻四探針測試儀 一.概述: 四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用AD芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動數據測量,系數補償, 參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量. 提供中文或英文語言版本. 二.適用范圍: 四探針法測試的 導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質要求測量的材料. 三.FT-371高阻四探針測試儀參數資料:
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